Halbleiterindustrie

Halbleiterindustrie

Darstellung mehrschichtiger Strukturen

Wie hier am Beispiel einer organischen Photovoltaik-Zelle gezeigt, können z.B. mit Hilfe der OCT (Optischer Kohärenztomographie) mehrschichtige Strukturen vermessen und analysiert werden. Organische PV-Zellen sind aus organischen Halbleitermaterialien, die die Donator- bzw. Akzeptorfunktion übernehmen, transparenten Elektroden sowie Schutzschichten aufgebaut. Daher ist ein homogener Schichtaufbau ohne Defekte, Einschlüsse, etc. für die Qualität, Funktionalität und dauerhafte Performance des Produkts häufig maßgeblich.

Charakterisierung von Dünnschichtstrukturen

Die Charakterisierung von Dünnschichtstrukturen kann auch durch amplitudenmodulierten Laser Ultraschall sehr effizient erfolgen. Dabei werden durch einen Laserpuls hochfrequente Ultraschallwellen (SAW) bis zu 1 GHz angeregt, und aus der Analyse des Dispersionsverhaltens das Schichtsystem charakterisiert. Fragen Sie unsere LUS-Experten!

Ortsaufgelöste Spektroskopie

Wollen Sie auf Mikrometer genau wissen, wie die örtliche Verteilung von chemischen Bestandteilen in Ihren Produkten aussieht? Mit Infrarot-Mikroskopie im mittleren Infrarot können wir Materialien und Schnittproben mit einer Ortsauflösung von bis zu 5 µm chemisch charakterisieren und z.B. Rückstände oder Einschlüsse vermessen.