FIEsys

Fast-Imaging-Extension für Terahertz-Systeme

Mit unserem FIEsys erweitern Sie Ihr Terahertz (THz-) System um eine schnelle und präzise Bildgebungseinheit. Als Basis dient dafür das THz-System "TeraFlash smart" und die Bildgebungseinheit „Flexible Imaging Extension“ der Fa. TOPTICA (https://www.toptica.com). Durch Kombination mit unserer Erweiterung FIEsys (bestehend aus dem Modul „FIEsync“ und der Software „FIEpack“) kann die volle Wiederholrate des „TeraFlash smart“-Systems von 1600 THz-Pulsspuren/Sekunde für die Bildgebung genutzt werden.

Zusammen mit unserem Partner TOPTICA kann somit ein Terahertz-Gesamtsystem für eine flexible und schnelle Bildgebung angeboten werden, das aus folgenden Komponenten besteht:

„TeraFlash smart“ von TOPTICA: Terhertz-System
„Flexible Imaging Extension“ von TOPTICA: Bildgebungseinheit
FIEsync von RECENDT: Synchronisationsmodul zwischen THz-System und Bildgebungseinheit
FIEpack von RECENDT: Software mit Benutzeroberfläche zur Datenaufzeichnung, -auswertung und -visualisierung

Gerne können Sie auch Ihr bestehendes Terahertz-System mit unserem FIEsys erweitern und Ihre Bildgebung optimieren – sprechen Sie uns an!

Technische Merkmale

Bildgebungseinheit
Messprinzip	stillstehende Probe/bewegter Sensorkopf Messung in Reflexion
Maximaler Bildbereich	300 x 300 mm
Genauigkeit	65 µm
Messgeschwindigkeit	> 1mm/s bis 280 mm/s
Auflösung @ 1600 Time Traces / second	0.175 mm @ 280 mm/s
FIEsync Hardware Spezifikation
Energieversorgung	USB (5 V, max. 300 mW)
Abmessungen	106 x 102 x 35 mm
Gewicht	190 g
Betriebsbereich	10°C - 70°C
Schutzklasse	IP20
FIEpack Software
Funktionen	Einstellen des Scan-Bereichs Datenaufzeichnung Datenauswertung Datenvisualisierung in Echtzeit

Downloads

RECENDT_PO_22_FIEsys_web.pdf (927,1 KiB)

Anwendung: Schnelle und präzise THz-Bildgebung

Datenvisualisierung in Echtzeit


A-Scan (Zeitsignal und Amplitudenspektrum)	B-Scan (Zeitsignal über gescannte Linie) C-Scan (maximale Amplitude über gescannte Fläche)

Anwendungsbeispiele

Detektion von Produktionsfehlern
Detektion von Fremdkörpern
Untersuchung von Faserrichtungen und Anisotropie in faserverstärkten Kunststoffen
Untersuchung von Klebeflächen
Untersuchung von Halbleiterprodukten
chemische Bildgebung (chemische Charakterisierung im THz-Spektrum)
3D-Tomographie (auf Anfrage)
... wir freuen uns auf Ihre Anfrage!