EFDS WORKSHOP: Charakterisierung in der Dünnschichttechnik
On-site event in German language, in cooperation with EFDS - European Society of Thin Films
EFDS Europäische Forschungsgesellschaft Dünne Schichten e.V. | Schaeffler Technologies AG & Co. KG | ASMEC Advanced Surface Mechanics GmbH
Von bahnbrechenden Forschungsmethoden bis hin zu industriellen Anwendungen
Ein inspirierender Workshop der EFDS zum Thema „Charakterisierung in der Dünnschichttechnik“. Entdecken Sie, wie aktuelle Entwicklungen und innovative Technologien die Brücke zwischen Forschung und industrieller Anwendung schlagen. Das gesamte Programm im Überblick hier im Programmflyer!
Unser Workshop bietet Ihnen spannende Einblicke in zentrale Fragestellungen der Dünnschichttechnik mit Fokus auf aktuelle Charakterisierungsmethoden.
Montag, 10. und Dienstag, 11. November 2025, JKU - Johannes Kepler Universität Linz, UNI-Center, Besprechungsraum 6 im 1. Stock.
Parkplätze in der Tiefgarage verfügbar.
Inhalte und Programm
Gemeinsam mit Expertinnen und Experten aus Wissenschaft und Industrie werden wir Themen beleuchten wie:
➢ Von der Forschung zur Serie: Herausforderungen und Erfolgsfaktoren bei der Übertragung von Forschungsergebnissen in die industrielle Praxis.
➢ Kooperation als Schlüssel: Die Zusammenarbeit zwischen Messgeräteherstellern, Forschung und Industrie auf dem Weg zur Serienausstattung.
➢ Wichtige Kenngrößen und Systemeigenschaften in der Dünnschichttechnik: Beschichtungseigenschaften (z.B. physikalisch, chemisch, optisch), Verbundeigenschaften (z.B. Haftung), sowie Verschleiß- und Alterungseffekte (z.B. Tribologie, Korrosion) – anwendungsbezogene Herausforderungen und Best Practices aus der Praxis
➢ Charakterisierungsmethoden und -verfahren:
Gewinnung/Messung relevanter Schichtparameter durch zerstörende und nicht-zerstörende Methoden, basierend auf kontakt- und kontaktlosen Ansätzen. Bedeutung, Anwendung, Grenzen und Möglichkeiten verschiedener Verfahren.
➢ Simulation, Digitalisierung und KI: Wissensbasiert oder Datenbasiert?
➢ Effektives Training von KI-Modellen: Simulationen, Messtechnik, Datenerfassung und Datenauswertung
Die EFDS bietet Ihnen mit diesem Workshop eine Plattform, um zukunftsweisende Entwicklungen und Herausforderungen gemeinsam zu diskutieren. Profitieren Sie von Praxisbeispielen, interdisziplinärem Austausch und Networking mit führenden Fachleuten der Branche
Agenda* - Montag, 10. November 2025
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ab 12:00 |
Eintreffen | Teilnehmer-Registrierung | Mittagsimbiss & Networking |
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Intro |
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13:00 |
Eröffnung & Begrüßung |
Udo Klotzbach | EFDS e.V. |
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13:10 |
Der Gastgeber stellt sich vor |
Peter Burgholzer | RECENDT |
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13:30 |
Eröffnungsvortrag |
Nazlim Bagcivan | Schaeffler |
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14:15 |
Kaffeepause & Networking |
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14:45 |
Nanoindentation 2.0 – eine Übersicht über mechanische Charakterisierungsmöglichkeiten moderner Geräte |
Thomas Chudoba | ASMEC Advanced Surface Mechanics GmbH, Dresden |
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15:10 |
Messen was den Unterschied macht – Schichtanalytik vom Labor bis zur Serienfertigung |
Dietmar Schorr | Steinbeis Transferzentrum Tribologie in Anwendung und Praxis, Karlsruhe |
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15:35 |
Simulationsstrategien in industriellen Elektronenstrahl |
Alexander Ebner | Hueck Folien GmbH, Baumgartenberg |
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16:00 |
Kaffeepause & Networking |
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16:30 |
Charakterisierung des Korrosionsverhaltens von Dünnschichtsystemen – Möglichkeiten und Grenzen |
Susanne Friedrich | Institut für Korrosionsschutz GmbH (IKS), Dresden |
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16:55 |
Herausforderungen und Perspektiven der Atomsonden-tomographie funktionaler Schichten und strukturierter Oberflächen |
Michael Tkadletz | Montanuniversität, Leoben |
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17:20 |
LAwave® – Möglichkeiten und Anwendungsbeispiele der laserakustischen Oberflächenwellen - Spektroskopie |
Stefan Makowski | Fraunhofer-Institut für Werkstoff-und Strahltechnik IWS, Dresden |
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ca. 17:45 |
Ende 1. Workshop-Tag |
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19:00 |
Get-Together | Gemeinsames Abendessen - Restaurant "Stadtliebe", im historischen Stadtzentrum |
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Agenda* - Dienstag, 11. November 2025
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09:00 |
Von Korn bis Grenzfläche: Mikrostrukturelle Charakte- |
Paul Mayrhofer | Technische Universität Wien |
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09:25 |
Prozesskontrolle in F&E und Produktion heute und morgen: Anforderungen, Herausforderungen und Potentiale |
Thomas Schütte | PLASUS GmbH, Mering |
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09:50 |
Flächige Dünnschichtinspektion mittels optisch-spektroskopischer Sensorik, gepaart mit einer |
Wulf Grählert | DIVE imaging systems GmbH, Dresden |
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10:15 |
Anwendungen von Laserultraschall als zerstörungs- und kontaktfreie Methode in der Dünnschichtcharakterisierung |
Mike Hettich | RECENDT |
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10:45 |
Kaffeepause & Networking |
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11:15 |
Perkolationsmonitoring und Schichtcharakterisierung |
Henning Heuer und André Clausner |
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11:40 |
Optiken für die EUV-Lithografie: Schichten und deren Charakterisierung |
Hartmut Enkisch | Carl Zeiss SMT GmbH, Oberkochen |
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12:05 |
Anwendungsspezifische Schichten entwickeln mit Digitalisierung, KI und Simulation |
Peter Gumbsch | Fraunhofer-Institut für Werkstoffmechanik IWM, Freiburg |
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12:30 |
Mittagspause & Networking |
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13:00 |
Saubere Daten, starke Modelle – Datenvorverarbeitung für |
Patrick Kraus-Füreder | RISC Software GmbH, Hagenberg |
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*** entfällt leider krankheitsbedingt *** |
*** ENTFÄLLT *** Stéphane Lucas | ICS Innovative Coating Solutions, Isnes, Belgien |
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13:55 |
Effiziente Analyse von Filmeigenschaften in komplexen 3D Strukturen |
Thomas Werner | Chipmetrics GmbH, Dresden |
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14:20 |
Podiumsdiskussion zu Forschungs- und Kooperationsbedarf |
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15:00 - 16:30 |
Firmenführung: Die RECENDT - Research Center for Non-Destructive Testing GmbH stellt sich |
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ca. 17:00 |
Ende des Workshops |
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* Programm – Stand 09.09.2025 | Änderungen vorbehalten
Anmeldung
Details zu Anmeldung und Teilnehmerkonditionen - gehen Sie bitte hier zur Webseite des Hauptveranstalters EFDS
(Wenn Sie sich mit nachstehendem Formular anmelden, helfen wir Ihnen natürlich auch gerne von Seiten der RECENDT weiter.)
Eine Kooperationsveranstaltung von EFDS, Schaeffler Technologies AG & Co. KG, RECENDT und ASMEC Advanced Surface Mechanics GmbH.
