ZDM_OmniScan zielt auf die Entwicklung zerstörungsfreier Messmethoden, die später in Produktionsprozessen eine möglichst fehlerfreie Fertigung von Komponenten und Produkten ermöglichen. Dadurch soll Ausschuss generell vermieden oder zumindest wesentlich reduziert werden, wobei mit zerstörungsfreien Verfahren im Prozess eine lückenlose Qualitätsprüfung durchgeführt werden kann.

In diesem Projekt werden neue optische und akustische Methoden entwickelt, die Oberflächen, Grenzflächen und Beschichtungen charakterisieren. Für Schichten im Nanometerbereich wir ein neues Labor aufgebaut, welches Pikosekunden-Laser-Ultraschall (PLUS) auf Basis von asynchronem optischem Sampling (ASOPS) ermöglicht. Weiters werden hochsensitive Varianten der optischen Kohärenztomographie (OCT) und Speckle-basierte Verfahren im phasensensitiven Modus zum Aufspüren von (Sub-)Mikrometerdefekten entwickelt.